作者: admin 时间:2020-12-19 17:39
复杂情景中的天线性能分析会因调查中予以考虑的实际细节而产生问题。在这种情况下,测量和数字建模是评估天线性能的基础工具。
使用计算电磁学(CEM)工具所创建的数字建模需要对源天线进行特定表述。可通过了解具体的天线特性实现这一点。但在大多数实际情况中,全波表述不可行或不可用。因此天线测量技术被证明是有效
的方法。
在本文中,您将了解哪些工具和技术可以克服因未知源模型特性和待测量环境复杂性所引起的限制。这一方法基于对天线的等效电流表述,连接测量设备/技术与商业数字计算工具,从而测量用于最复杂测
试环境模拟的源天线。
资料下载:www.mvg-world.com/zh-hans/system/files/mvg_insight_whitepaper_ch__0.pdf
手机: 139 2280 1117
电话: +86 755 8356 6617
邮箱: michael.chan@preston-thornton.com
地址: 香港九龙尖沙咀漆咸道南45-51号其士大厦803室